- 2008-03-13 全新光罩检查系统TeraFab系列（KLA-Tencor）
- KLA-Tencor公司推出了全新系列的光罩检查系统，为晶片厂提供更灵活的配置方式，以检验进货的光罩，并检查生产光罩是否存在会降低产能并增加生产风险的污染物。TeraFab系统提供了三种
- 2008-03-12 20GHz带宽的TriMode三模切换探头（泰克）
- 泰克公司推出了配合世界上最快的4通道实时示波器使用的速度最快的探头。新的P7520探头提供了20GHz的带宽，与DSA72004数字串行分析仪(DSA)示波器的带宽配套，为电气工程师提供了最先进
- 2008-03-11 “全内置”串行数据接收机测试解决方案（泰克
- 泰克公司推出SerialXpress高级软件www.tek.com/serial_data。这种新软件为高速串行数据接收机测试直接合成波形，特别适合测试SATA、SAS、PCI-Express、HDMI和DisplayPort串行数据标准及工作速率在6G
- 2008-03-11 TekExpress SATA一致性测试软件（泰克）
- 泰克公司日前宣布，推出新的TekExpress一致性自动测试平台和新的TekExpressSATA自动一致性测试软件。TekExpressSATA在TekExpress平台上运行，利用经过认证的泰克串行数据高性能仪器套件，对接
- 2008-03-05 FlexRay汽车测量软件（安捷伦）
- 安捷伦科技日前推出一款测量应用软件，可为Infiniium系列示波器提供全面的FlexRay触发、协议解码、调试和眼图分析功能。该测量解决方案可帮助使用嵌入式微处理器的汽车设计师正确验
- 2008-02-29 柔性测试技术（泛华测控）
- 北京中科泛华测控技术有限公司宣布推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术——柔性测试技术。这一全新概念进一步理清了面向应用的测试系统概念，明确了测试测量
- 2008-02-26 RIGOL携测试测量精品赴IIC盛宴
- 中国电子行业的年度盛会—第十三届国际集成电路研讨会暨展览会（IIC-China）将于2008年2月28-29日在成都拉开首站序幕。全球技术领先公司和国内本土电子厂商将悉数登场并展示他们的年
- 2008-02-15 两款新型Aleris薄膜量测系统（KLA-Tencor）
- KLA-Tencor公司推出Aleris8310和Aleris8350，在Aleris系列薄膜量测系统中增添了两款新品。这些量测系统采用KLA-Tencor的最新一代宽带光谱椭圆偏光法（BroadbandSpectroscopicEllipsometry，BBSE）光学元件
- 2008-02-15 新型中端实时频谱分析仪（泰克）
- 泰克公司日前宣布，在中端RSA3000B系列实时频谱分析仪中增加DPX数字荧光技术。工程师可以使用RSA3300B和RSA3408B系列实时频谱分析仪，以独一无二的方式实时查看频谱的RF信号，为各种数字
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