摘要：介绍了影响蓄电池使用寿命的因素，并就容量测试技术的现状进行了分析，结合实际介绍了蓄电池容量测试技术的发展趋势。关键词：蓄电池；使用寿命；容量测试技术；发展趋势0引言随着信息、能源、电子技术的快速发展,VRLA电池目前已被广泛地应用于邮...
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AnalogDevices,Inc.(ADI)，最近推出ADP2370/7115V、800mA输出DC-DC调节器，这款器件针对提高电能使用效率进行了优化，适合使用多种碱性/NiMH电池、锂电池或其它标准电源的电池供电应用。高集成度的ADP...
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恩智浦半导体NXPSemiconductorsN.V.在摩纳哥WIMANFC大会上宣布推出MIFARE4Mobile的JavaApplet程序，该程序将可安装在恩智浦的最新嵌入式安全元件之中，为全球数量可观的MIFAREClassic系统提...
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意法半导体全资子公司PortlandGroup®发布支持Linux、OSX和Windows三大操作系统的2012版PGI®高性能并行编译器及开发工具系列产品正式上市。PGI2012是首个支持OpenACC指令式编程模型的通用...
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瑞萨电子株式会社（以下简称“瑞萨电子”）日前宣布推出14个针对汽车应用的新型智能功率器件(IntelligentPowerDevice,以下简称“IPD”)，包括µPD166023...
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IDT®公司(IntegratedDeviceTechnology,Inc.)宣布推出面向超低功耗固态硬盘应用的全新精密温度传感器产品系列。新的器件系列可将功耗降至最低、优化材料清单成本（BOM），并与针对高容量内存模块的现有标准保...
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据国外媒体报道，据市场研究公司IHSiSuppli最新发布的《数据闪存市场跟踪调研报告》称，得益于超级本电脑的销售增长，超级本电脑使用的固态硬盘销量也随之增长，预计全球NAND闪存市场今年的增长率将达到8%。iSuppli预计今年全球NAN...
