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  • 2011-12-27 片内相位测量工具模拟光刻机
  • 关键字 :片内相位测量 模拟光刻机 采用特殊照明方式的高/超高数值孔径(NA)的193nm光刻机和相位移掩膜版(PSM),使得光刻分辨率的极限达到了32nm节点。不利的因素是掩膜的复杂度
  • 2011-12-27 从设计与生产环节降低TD手机测试成本
  • 关键字 :TD手机 测试成本 对于手机产品,要想使价格具有竟争力,在设计时采用低成本元器件仅仅是第一步。生产过程成本,特别是最终测试过程中所发生的成本对于最终产品价格有
  • 2011-12-26 CDMA/GSM手机在线功能测试
  • 关键字 :手机 线功能测试 中国每年都要生产成千上万部手机,然而手机测试设备却相当昂贵,测试速度普遍较慢。据保守估计,每测试一部手机将耗费生产商1$以及花费测试时间1-3分
  • 2011-12-25 用万用表检测发光二极管LED的方法
  • 发光二极管(LED)是一种直接注入电流的发光器件,是半导体晶体内部受激电子从高能级回复到低能级时,发射出光子的结果,这就是通常所说的自发发射跃迁.当LED的PN结加上正向偏压,注入
  • 2011-12-23 泰克推出SFF 8431 SFP+自动一致性测试和调试解决方
  • 泰克公司日前宣布,增强和扩展其SFF 8431 SFP+ 一致性测试和调试解决方案,包括支持之前只能在示波器 (如Tektronix DPO/DSA/MSO70000D 系列) 上以极快速采样率执行的严格的TWDPc(发送端波形失
  • 2011-12-22 安捷伦为雷达和国防电子测试测量推出系列新产
  • 安捷伦科技公司日前宣布推出一系列用于雷达和国防电子测试测量的新产品。 当今的电子环境下,频谱越来越拥挤(蜂窝系统和军用系统互相干扰);战场也开始进入拥挤的城市内;雷
  • 2011-12-22 安捷伦推出应对MSR等新的信号产生和分析解决方
  • 安捷伦科技公司日前宣布推出基于 X 系列信号分析仪的多标准无线技术(MSR)信号测量应用软件、LTE MAC层测试软件及802.11ac信号产生和分析解决方案。 安捷伦MSR 测量应用软件可提供一
  • 2011-12-22 安捷伦推出针对研发的最新无线通信测试仪
  • 安捷伦科技公司日前宣布推出最新的 E5515E 8960 系列 10 无线通信测试仪,该测试仪专为需要以最大数据速率对 2G/3G/3.5G 设计进行极限测试的研发工程师而设计。 E5515E 是目前业界首选的
  • 2011-12-21 LabVIEW、多核技术及FPGA技术如何改变自动测试
  • 关键字 :LabVIEW、多核技术 FPGA技术 编辑笔记 :Eric Starkloff,美国国家仪器的模块化仪器和仪器控制产品营销总监。他将和我们一起讨论影响仪器技术和自动测试的一些变化,以及NI的