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  • 2007-09-18 泰克 推出最新的串行分析仪
  • 泰克公司日前宣布,为测试和验证PCIExpress(PCIe)1.0和2.0设计推出新的TLA7S16和TLA7S08串行分析仪。与竞争对手的协议分析仪不同,泰克新的串行分析仪产品以独一无二的方式提供了详细的P
  • 2007-09-17 泰克 增强GeoProbe网络保证解决方案
  • 泰克公司日前宣布,增强其GeoProbe网络保证解决方案,这是泰克为管理下一代融合网络提供的业内领先的一体化保证应用套件的一部分。GeoProbe平台为执行实时、多协议、跨架构性能监测
  • 2007-09-17 吉时利 发布新型低电流测量数字源表
  • 吉时利仪器公司,今日发布了其2600系列SourceMeter数字源表的两款新产品2635和2636,自此形成业界技术最先进、效费比最高的半导体参数分析与测试解决方案。2635和2636采用最新特殊参数分
  • 2007-09-17 吉时利 发布3700系列开关/万用表系统
  • 吉时利仪器公司,今日发布了其3700系列系统开关/万用表和插卡系列产品,这是吉时利基于新一代平台的开关和集成数字万用表(DMM)测试解决方案。该产品实现了高品质、仪器级的开关
  • 2007-09-10 安捷伦 推出手持式数字万用表家族
  • 安捷伦科技发布其又一全新的手持式数字万用表(DMM)产品系列-U1240A系列。通过沿用屡获殊荣的U1250系列的技术创新,U1240系列数字万用表提供了更适合安装和维护应用的功能。 使用
  • 2007-09-05 CATC 发布通用嵌入式软件仿真测试环境GESTE2.0
  • 中航一集团计算机软件可靠性管理与测评中心(CATC)今日宣布,其自行研发、拥有独立知识产权的通用嵌入式软件仿真测试环境(GESTE)在京隆重发布二代产品-GESTE2.0。GESTE是由我国科
  • 2007-09-03 惠瑞捷 推出纳米电子数字信号测试解决方案
  • 惠瑞捷半导体科技有限公司针对65纳米和更小制程所生产之先进数字IC的晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest),推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(
  • 2007-09-03 惠瑞捷 推出混合信号测试解决方案
  • 惠瑞捷半导体科技有限公司的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高集成度的消费性电子产品组件,进行晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest)
  • 2007-08-24 奥地利微电子 推出单相电表IC
  • 奥地利微电子公司推出新型单相电表ICAS8267,为片上数据和程序存储器提供最可靠的数据安全保持,且能在极端温度范围内工作。 采用特色封装的AS8267电表IC包含一个最先进的精密前端,