- 2008-05-09 基于CC2430和DS18B20的无线测温系统设计
- 目前，很多场合的测温系统采用的还是有线测温设备，由温度传感器、分线器、测温机和监控机等组成，各部件之间采用电缆连接进行数据传输。这种系统布线复杂、维护困难、成本高
- 2008-05-09 新一代高速数据采集仪（横河电机）
- 日本横河电机株式会社面向全球同时发售新一代高速数据采集仪SL1000。长期以来，快速准确地捕捉瞬变波形和长期记录慢变过程是一对不可调和的矛盾，SL1000最大限度地平衡了这对矛盾
- 2008-05-06 高精度多功能USB接口数据采集设备（NI）
- 美国国家仪器有限公司（NationalInstruments,简称NI）推出新款M系列USB数据采集设备（DAQ），该设备支持18位模拟输入，采样率达到625kS/s。NIUSB-6281和USB-6289包含18位ADC，相比传统16位设备其分
- 2008-05-05 HDMI自动化解决方案（安捷伦）
- 安捷伦科技公司日前在业界率先展示了HDMI物理层、EDID、CEC和HDCP综合测试。安捷伦自动化测试软件平台集成了QuantumData882，可提供目前市场上最广泛的视频测试。HDMI一致性测试标准推荐
- 2008-05-05 LabVIEW8.5控制设计与和仿真模块（NI）
- 美国国家仪器有限公司（简称NI）宣布推出其NILabVIEW8.5控制设计与仿真模块。作为LabVIEW图形化系统设计平台的扩展，该模块可以帮助工程师和科学家们分析开环模型的状况，设计闭环控
- 2008-05-04 自动特征分析套件测试系统4.0版（Keithley）
- 美国吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布增强了其ACS（AutomatedCharacterizationSuite，自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（waferlevelreliability，圆片级
- 2008-04-30 全面TD-SCDMA测试解决方案（安立）
- 基于手持式频谱分析仪和基站测试仪平台的全面的TD-SCDMA测试解决方案选件为设备生产商、运营商、运维公司等客户提供了成熟的TD-SCDMA现场测试解决方案。 这一TD-SCDMA测试解决方案共包
- 2008-04-24 最新光罩检测技术（KLA-Tencor）
- KLA-Tencor公司推出其称为“晶片平面光罩检测”(WaferPlaneInspection,WPI)的最新光罩检测技术。该技术系业界首次在单一系统上提供既可查找光罩上的所有缺陷，又能显示只印刷在晶片上的缺
- 2008-04-22 DPO3000系列数字荧光示波器（泰克）
- 泰克公司日前宣布，推出DPO3000系列数字荧光示波器(DPO)，这个系列的便携式示波器延续了泰克屡获大奖的DPO/MSO4000系列拥有的优势特性。新推出的DPO3000为嵌入式设计应用中使用的最流行
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